Measuring the quality of shifting and scaling patterns in biclusters
- Pontes, B.
- Giráldez, R.
- Aguilar-Ruiz, J.S.
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
ISBN: 9783642160004
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 6282 LNBI
Seiten: 242-252
Art: Konferenz-Beitrag