Estimación y comparación de las razones de verosimilitud de dos tests diagnósticos binarios en diseños apareados

  1. Luna del Castillo, Juan de Dios
  2. Roldán Nofuentes, José A.
Libro:
XXX Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa y de las IV Jornadas de Estadística Pública: actas

Editorial: Comité organizador del XXX Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa y IV Jornadas de Estadística Pública

ISBN: 978-84-690-7249-3

Año de publicación: 2007

Congreso: Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa (30. 2007. Valladolid)

Tipo: Aportación congreso

Resumen

El rendimiento de un test diagn´ostico binario se puede medir mediante las razones de verosimilitud (LRs). Cuando el resultado del test diagn´ostico es positivo, la LR del test diagn´ostico se define como el ratio entre la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente no enfermo; y cuando el resultado del test es negativo, la LR es el ratio entre la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente no enfermo. En este trabajo nosotros proponemos un m´etodo para estimar y comparar las razones de verosimilitud de dos tests diagn´osticos binarios cuando ambos tests se aplican a una misma muestra de pacientes. Hemos realizado unos experimentos de simulaci´on para estudiar la potencia y el error tipo I de los tests de hip´otesis deducidos. Tambi´en hemos analizado el problema del c´alculo del tama�no muestral para comparar las razones de verosimilitud.