Estimación y comparación de las razones de verosimilitud de dos tests diagnósticos binarios en diseños apareados
- Luna del Castillo, Juan de Dios
- Roldán Nofuentes, José A.
Editorial: Comité organizador del XXX Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa y IV Jornadas de Estadística Pública
ISBN: 978-84-690-7249-3
Año de publicación: 2007
Congreso: Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa (30. 2007. Valladolid)
Tipo: Aportación congreso
Resumen
El rendimiento de un test diagn´ostico binario se puede medir mediante las razones de verosimilitud (LRs). Cuando el resultado del test diagn´ostico es positivo, la LR del test diagn´ostico se define como el ratio entre la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente no enfermo; y cuando el resultado del test es negativo, la LR es el ratio entre la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente no enfermo. En este trabajo nosotros proponemos un m´etodo para estimar y comparar las razones de verosimilitud de dos tests diagn´osticos binarios cuando ambos tests se aplican a una misma muestra de pacientes. Hemos realizado unos experimentos de simulaci´on para estudiar la potencia y el error tipo I de los tests de hip´otesis deducidos. Tambi´en hemos analizado el problema del c´alculo del tama�no muestral para comparar las razones de verosimilitud.