Raman Fingerprints of ?-Electron Delocalization in Polythiophene-Based Insulated Molecular Wires
- Mosca, S.
- Milani, A.
- Castiglioni, C.
- Hernández Jolín, V.
- Meseguer, C.
- López Navarrete, J.T.
- Zhao, C.
- Sugiyasu, K.
- Ruiz Delgado, M.C.
ISSN: 1520-5835, 0024-9297
Any de publicació: 2022
Volum: 55
Número: 9
Pàgines: 3458-3468
Tipus: Article