Spectral dependence of photorefractive erasure in Bi1 2GeO20 and Bi12SiO 20

  1. Baquedano, J.A.
  2. Contreras, L.
  3. Diéguez, E.
  4. Cabrera, J.M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1989

Volumen: 66

Número: 11

Páginas: 5146-5150

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.343748 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus