Transient Sub-nanosecond Soft X-ray NEXAFS Spectroscopy on Organic Thin Films
- Jonas, A.
- Dammer, K.
- Stiel, H.
- Kanngiesser, B.
- Sánchez-De-Armas, R.
- Mantouvalou, I.
ISSN: 1520-6882, 0003-2700
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 92
Nummer: 23
Seiten: 15611-15615
Art: Artikel