Transient Sub-nanosecond Soft X-ray NEXAFS Spectroscopy on Organic Thin Films
- Jonas, A.
- Dammer, K.
- Stiel, H.
- Kanngiesser, B.
- Sánchez-De-Armas, R.
- Mantouvalou, I.
ISSN: 1520-6882, 0003-2700
Ano de publicación: 2020
Volume: 92
Número: 23
Páxinas: 15611-15615
Tipo: Artigo