Advanced X-ray methods for chalcogenide thin film analysis
- Kötschau, I.M.
- Weber, A.
- Pistor, P.
- Lauermann, I.
- Fischer, Ch.-H.
- Schock, H.W.
ISSN: 0040-6090
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 515
Nummer: 15 SPEC. ISS.
Seiten: 5992-5996
Art: Artikel