Characterization of the silicon/fluoride solution interfaces by in-situ microwave reflectivity

Natarajan, Arun
Oskam, Gerko
Oursler, Douglas A.
Searson, Peter C.

Actas:

Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 1997

Volumen: 451

Páginas: 197-202

Tipo: Aportación congreso

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