Copper diffusion in thin In 2S 3 layers investigated by Rutherford backscattering spectroscopy
- Juma, A.O.
- Pistor, P.
- Fengler, S.
- Dittrich, T.
- Wendler, E.
ISSN: 0040-6090
Año de publicación: 2012
Volumen: 520
Número: 22
Páginas: 6740-6743
Tipo: Artículo