Advanced X-ray methods for chalcogenide thin film analysis

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Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2007

Volumen: 515

Número: 15 SPEC. ISS.

Páginas: 5992-5996

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.TSF.2006.12.158 GOOGLE SCHOLAR
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