Characterization of silicon surfaces in HF solution using microwave reflectivity
- Natarajan, A.
- Oskam, G.
- Searson, P.C.
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1998
Volume: 83
Número: 4
Páxinas: 2112-2120
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1998
Volume: 83
Número: 4
Páxinas: 2112-2120
Tipo: Artigo