Avalanche breakdown energy in silicon carbide junction field effect transistors
- Hinojosa, M.
- Bayne, S.
- Veliadis, V.
- Urciuoli, D.
ISSN: 0255-5476
ISBN: 9783037854198
Datum der Publikation: 2012
Ausgabe: 717-720
Seiten: 1025-1028
Art: Konferenz-Beitrag