Avalanche breakdown energy in silicon carbide junction field effect transistors
- Hinojosa, M.
- Bayne, S.
- Veliadis, V.
- Urciuoli, D.
ISSN: 0255-5476
ISBN: 9783037854198
Argitalpen urtea: 2012
Alea: 717-720
Orrialdeak: 1025-1028
Mota: Biltzar ekarpena
Liburu bilduma:
Materials Science Forum