Analysis of the impedance response due to surface states at the semiconductor/solution interface

  1. Hoffmann, P.M.
  2. Oskam, G.
  3. Searson, P.C.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Any de publicació: 1998

Volum: 83

Número: 8

Pàgines: 4309-4323

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.367191 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus