Analysis of the impedance response due to surface states at the semiconductor/solution interface

  1. Hoffmann, P.M.
  2. Oskam, G.
  3. Searson, P.C.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 83

Nummer: 8

Seiten: 4309-4323

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.367191 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus