Analysis of the impedance response due to surface states at the semiconductor/solution interface

  1. Hoffmann, P.M.
  2. Oskam, G.
  3. Searson, P.C.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 1998

Volume: 83

Número: 8

Páxinas: 4309-4323

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.367191 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus