In situ measurements of interface states at silicon surfaces in fluoride solutions

  1. Oskam, G.
  2. Hoffmann, P.M.
  3. Searson, P.C.
Zeitschrift:
Physical Review Letters

ISSN: 1079-7114,  0031-9007

Datum der Publikation: 1996

Ausgabe: 76

Nummer: 9

Seiten: 1521-1524

Art: Artikel

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.76.1521 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus