In situ measurements of interface states at silicon surfaces in fluoride solutions
- Oskam, G.
- Hoffmann, P.M.
- Searson, P.C.
ISSN: 1079-7114, 0031-9007
Ano de publicación: 1996
Volume: 76
Número: 9
Páxinas: 1521-1524
Tipo: Artigo
Revista:
Physical Review Letters