In situ measurements of interface states at silicon surfaces in fluoride solutions
- Oskam, G.
- Hoffmann, P.M.
- Searson, P.C.
ISSN: 1079-7114, 0031-9007
Argitalpen urtea: 1996
Alea: 76
Zenbakia: 9
Orrialdeak: 1521-1524
Mota: Artikulua
ISSN: 1079-7114, 0031-9007
Argitalpen urtea: 1996
Alea: 76
Zenbakia: 9
Orrialdeak: 1521-1524
Mota: Artikulua