Avalanche breakdown energy in silicon carbide junction field effect transistors

  1. Hinojosa, M.
  2. Bayne, S.
  3. Veliadis, V.
  4. Urciuoli, D.
Colección de libros:
Materials Science Forum

ISSN: 0255-5476

ISBN: 9783037854198

Año de publicación: 2012

Volumen: 717-720

Páginas: 1025-1028

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.717-720.1025 GOOGLE SCHOLAR

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