Tetrathiafulvalene-based materials for organic field effect transistors. Inspection of their semiconductor properties by means of molecular spectroscopy and quantum chemistry

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Revista:
Journal of Physical Chemistry C

ISSN: 1932-7447 1932-7455

Año de publicación: 2007

Volumen: 111

Número: 27

Páginas: 10110-10118

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/JP073148E GOOGLE SCHOLAR